Диоды полупроводниковые. Метод измерения времени обратного восстановления.
ОКС: 31.080.10
КГС: Э29 Методы испытаний. Упаковка. Маркировка
Действие: С 01.01.75
Изменен: ИУС 9/82, 10/95
Примечание: переиздание 1998
Справочник ГОСТов. 2009.
Справочник ГОСТов. 2009.