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Rọ̈ntgenstruktur|analyse,

 

Rọ̈ntgenkristallstruktur|analyse, Feinstruktur|analyse, die Bestimmung der Struktur von Kristallen, d. h. der räumlich-periodischen Anordnung der Gitterbausteine (Atome, Ionen, Moleküle), mithilfe der Beugung von Röntgenstrahlen an der Gitterstruktur eines Kristalls; wesentliches Teilgebiet der Kristallstrukturanalyse. Die Röntgenstrukturanalyse geht auf das Laue-Verfahren zurück, nach dem ein fein gebündelter Röntgenstrahl durch einen Kristall geschickt, an diesem nach bestimmten Richtungen gebeugt (Laue-Gleichungen) und das so entstehende Interferenzmuster auf einer fotografischen Platte aufgezeichnet wird. Gemäß der Bragg-Gleichung lassen sich die Beugung und die daraus entstehenden Interferenzerscheinungen auch als eine Reflexion der Strahlen an den Netzebenen des Kristalls auffassen. Die Auswertung der fotografisch oder elektronisch aufgenommenen Interferenzbilder erlaubt es, Kristallaufbau und -symmetrie sowie die Gitterkonstanten von Kristallen zu bestimmen, aber auch Aussagen über Atom- und Molekülabstände in verschiedenen Stoffen, Valenzwinkel in Molekülen und den Aufbau komplizierter organischer Moleküle (z. B. DNA) zu machen.

 

Zur Röntgenstrukturanalyse stehen verschiedene experimentelle Verfahren zur Verfügung. Als Bragg-Methoden werden die Goniometermethode, bei der Richtung und Intensität der gebeugten Strahlen mit einem Zählrohr bestimmt werden, sowie die Drehkristallmethode bezeichnet, die eine fotografische Platte oder einen zylindrisch um den Kristall gelegten Film als Aufzeichnungsmedium benutzt. Damit verwandt sind die Röntgengoniometerverfahren wie das Weissenberg-Verfahren und die De-Jong-Bouman-Methode, die die Röntgenreflexe auf einem bewegten Film aufzeichnen (»Bewegtfilmmethoden«). Zu den Pulvermethoden, bei denen die Probe in Form feinen Kristallpulvers vorliegt, zählen das verbreitete Debye-Scherrer-Verfahren, das Guinier-Verfahren und das Bragg-Brentano-Verfahren.

 

Literatur:

 

F. Raaz: Röntgenkristallographie (1975);

 E. R. Wölfel: Theorie u. Praxis der R. (³1987);

 H. Krischner u. B. Koppelhuber-Bitschnau: R. u. Rietveldmethode (⁵1994).